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Mikroskopische Untersuchung von Nanopartikel-beschichtetem Siliziumwafer zur Verbesserung der Halbleitereffizienz (2023, Deutschland)
Mikroskopische Untersuchung von Nanopartikel-beschichtetem Siliziumwafer zur Verbesserung der Halbleitereffizienz (2023, Deutschland)
Oberflächenmodifikation von Siliziumwafers: Nanotechnologie zur Verbesserung der Haftungseigenschaften für Halbleiteranwendungen
Oberflächenmodifikation von Siliziumwafers: Nanotechnologie zur Verbesserung der Haftungseigenschaften für Halbleiteranwendungen
Makrofotografie einer mit Nanotechnologie behandelten Siliziumwafer-Oberfläche in einem Dresdner Labor
Makrofotografie einer mit Nanotechnologie behandelten Siliziumwafer-Oberfläche in einem Dresdner Labor
Mikroskopische Nanostrukturen auf Siliziumwafer: Fortschritte in der Nanotechnologie und Materialwissenschaften
Mikroskopische Nanostrukturen auf Siliziumwafer: Fortschritte in der Nanotechnologie und Materialwissenschaften
Mikroskopische Aufnahme einer nanotechnologisch modifizierten Oberfläche mit geometrischem Muster und metallischer Beschichtung
Mikroskopische Aufnahme einer nanotechnologisch modifizierten Oberfläche mit geometrischem Muster und metallischer Beschichtung
Modernes Labor in Zürich: Einsatz von Nanotechnologie zur Oberflächenmodifikation mit Rasterkraftmikroskop (AFM)
Modernes Labor in Zürich: Einsatz von Nanotechnologie zur Oberflächenmodifikation mit Rasterkraftmikroskop (AFM)
Hochmoderne Reinraumumgebung in Schweizer Forschungszentrum: Wissenschaftler bedient Spin-Coating-Maschine zur Nanostrukturierung von Siliziumscheiben.
Hochmoderne Reinraumumgebung in Schweizer Forschungszentrum: Wissenschaftler bedient Spin-Coating-Maschine zur Nanostrukturierung von Siliziumscheiben.

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